Holographische Methoden in der Oberflächenkristallographie mit Beugung langsamer Elektronen:
Gespeichert in:
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Sprache: | German |
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2002
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INHALTSVERZEICHNIS
1
EINFUEHRUNG
1
2
OBERFLAECHENKRISTALLOGRAPHIE
MIT
LEED
6
2.1
DYNAMISCHE
THEORIE
.
8
2.2
DAS
PHASENPROBLEM
IN
DER
KRISTALLOGRAPHIE
.
13
2.3
INDIREKTE
STRUKTURBESTIMMUNG
DURCH
YYTRIAL
AND
ERROR
"
.
14
2.3.1
DAS
YYTRIAL-AND-ERROR
"
-VERFAHREN
.
14
2.3.2
GERICHTETE
STRUKTURSUCHE
.
16
2.3.3
TENSOR-LEED
UND
SEINE
INVERSION
ALS
DIREKTE
METHODE
.
18
2.4
DIREKTER
ZUGANG
NACH
DEM
HOLOGRAPHISCHEN
PRINZIP
.
23
3
LEED-HOLOGRAPHIE
MIT
EINEM
EXPONIERTEN
ATOM
ALS
REFERENZ
28
3.1
HOLOGRAPHISCHE
INTERPRETATION
VON
LEED-BILDCRN
.
29
3.1.1
EXPONIERTE
ATOME
ALS
HOLOGRAPHISCHE
STRAHLTEILER
UND
INNERE
ELEKTRONENQUELLE
.
29
3.1.2
BERECHNUNG
DER
REFERENZ
UND
OBJEKTWELLEN
IN
LEED
.
33
3.1.3
HOLOGRAPHISCHE
ORTSRAUMREKONSTRUKTION
UND
DER
INTEGRALKERN:
DER
YYCORRECT-ALGORITHMUS
.
34
3.1.4
ANWENDUNG
AUF
GEORDNETE
SYSTEME:
KONSEQUENZEN
AUS
DEM
AB
TASTTHEOREM
.
43
3.2
HOLOGRAPHISCHE
REKONSTRUKTIONEN
VON
HEXAGONALEN
SIC-OBERFLAECHEN
.
.
50
3.2.1
DIE
SIC-OBERFLAECHE
.
50
3.2.2
DIE
6H-SIC(0001)-(V^
X
V
/
3)AE30-PHASE:
EIN
BEISPIEL
FUER
MINI
MALE
ABTASTRATE
.
55
3.2.3
DIE
6H-SIC(0001)-(2X2)
C
-PHASE:
MOEGLICHKEITEN
UND
GRENZEN
DER
LEED-HOLOGRAPHIE
.
62
3.2.3.1
HOLOGRAPHISCHE
REKONSTRUKTION
UND
LEED
STRUKTURANALYSE:
GEISTERATOM
UND
VERSCHOBENE
ATOME
.
63
3.2.3.2
WEITERENTWICKLUNG
DES
INTEGRALKERNS:
ELIMINATION
DES
GEISTERATOMS
.
71
3.2.3.3
URSACHE
DES
GEISTERATOMS
.
78
3.2.3.4
STRAHLTEILERINDUZICRTE
SUBSTRATREKONSTRUKTION:
DER
EIN
FLUSS
EINES
NICHT
HOLOGRAPHISCHEN
OBJEKTWELLENPROZESSES
83
3.2.3.5
EIN
HYBRIDES
VERFAHREN
ZUR
ITERATIVEN
BILDREKONSTRUKTION
86
3.3
FESI
2
(LLL):
BEISPIEL
FUER
SUBSTRATATOME
MIT
STARK
ANISOTROPEN
STREUFAKTOREN
95
3.3.1
HOLOGRAPHISCHE
REKONSTRUKTION
DER
FESI
2
(LLL)-(2X2)-PHASE
.
97
3.3.2
DER
INTEGRALKERN
IM
NAHFELD
.
102
3.3.3
BEISPIEL
FUER
EINE
NAHFELDREKONSTRUKTION
.
106
3.4
ZUSAMMENFASSUNG
DER
METHODISCHEN
WEITERENTWICKLUNGEN
.
110
4
LEED-HOLOGRAPHIE
MIT
DER
VOLUMENSTRUKTUR
ALS
REFERENZ
113
4.1
OBERFLAECHENKRISTALLOGRAPHIE
ALS
STRUKTURVERVOLLSTAENDIGUNGSPROBLEM
.
.
.
114
4.2
MAXIMUM-ENTROPIE-LOESUNG
DES
INVERSEN
VICLFACHSTREUPROBLEMS
IN
LEED
115
4.2.1
FORM
VON
REFERENZ
UND
OBJEKTWELLC
IN
LEED
.
115
4.2.2
BEDINGTE
WAHRSCHEINLICHKEITEN
UND
DIE
FORMEL
VON
BAYES
.
119
4.2.3
ENTWICKLUNG
EINES
ITERATIVEN
ALGORITHMUS
NACH
DEM
PRINZIP
DER
ENTROPIE-MAXIMIERUNG
.
122
4.3
ANWENDUNGSBEISPIELE
.
128
4.3.1
DIREKTE
STRUKTURBESTIMMUNG
VON
NI(100)-C(2X2)-CO
.
128
4.3.2
ADSORBIERTES
BROM
AUF
DER
PT(110)-OBERFLAECHE:
DIREKTE
STRUK
TURBESTIMMUNG
DER
C(2X
2)
UND
(3
X
1)-PHASE
.
133
4.3.3
H-ADSORPTION
UND
FE-EPITAXIE
AUF
DER
IR(100)-OBERFLAECHE:
DIREK
TE
STRUKTURBESTIMMUNG
VON
IR(100)-(5XL)-H
UND
IR(100)-(5XL)-FEL37
4.4
ZUSAMMENFASSUNG
.
141
5
ZUSAMMENFASSUNG
144
ANHANG
148
A.L
LEED-INTENSITAETSANALYSE
DER
SIC(0001)-( /3
X
/3)7?30
ADATOMSTRUKTUR:
NACHWEIS
EINER
PRAEPARATIV
INDUZIERTEN
OBCRFLAECHEN
STAPCLSEQUENZAENDERUNG
.
148
A.2
VEROEFFENTLICHUNGEN
UND
VORTRAEGE
.
156
LITERATURVERZEICHNIS
158 |
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