Gettering and defect engineering in semiconductor technology: GADEST 2001 ; proceedings of the 9th International Autumn Meeting, S. Tecla, Italy, September 30 - October 3, 2001
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Uetikon-Zürich Scitec Publ. 2002
Schriftenreihe:Diffusion and defect data B, Solid state phenomena ; 82/84
Schlagworte:
Beschreibung:Includes bibliographical references and index
Beschreibung:xviii, 823 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3908450640

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