Charged particle detection, diagnostics, and imaging: 30 July-2 August 2001, San Diego, USA
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 2001
Schriftenreihe:Proceedings of SPIE / Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers 4510
Schlagworte:
Beschreibung:Includes bibliographical references and index
Beschreibung:ix, 236 p. ill. : 28 cm
ISBN:0819442240

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