Design, test, integration, and packaging of MEMS, MOEMS: 9 - 11 May 2000, Paris, France
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 2000
Schriftenreihe:Proceedings of SPIE / Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers 4019
Schlagworte:
Beschreibung:xv, 596 p. ill. : 28 cm
ISBN:0819436453

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!