Oberflächenvergütung von dentalen Keramikwerkstoffen mit Hilfe von 308-nm-XeCl-Excimer-Laserstrahlung:
Gespeichert in:
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| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
2002
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| Beschreibung: | München, Univ., Med. Fak., Diss., 2002 |
| Beschreibung: | 101 S. Ill., graph. Darst. |
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INHALTSVERZEICHNIS
1
EINLEITUNG
-9
1.1
ALLGEMEINES
-9
1.2
ZAHNAERZTLICHE
KERAMISCHE
WERKSTOFFE
-12
1.2.1
HISTORISCHE
ENTWICKLUNG
-12
1.2.2
KONVENTIONELLE
ZAHNAERZTLICH-KERAMISCHE
WERKSTOFFE
-13
1.2.3
VOLLKERAMISCHE
WERKSTOFFE
-17
1.2.4
VERARBEITUNG
VON
ZAHNAERZTLICHEN
KERAMISCHEN
WERKSTOFFEN
-20
1.2.5
KLASSIFIKATION
VON
ZAHNAERZTLICHEN
KERAMISCHEN
WERKSTOFFEN
-23
1.3
EINSATZ
VON
LASERSTRAHLUNG
ZUR
BEARBEITUNG
VON
ZAHNAERZTLICHEN
WERKSTOFFEN
-23
1.4
PHYSIKALISCHE
GRUNDLAGEN
DER
ENTSTEHUNG
VON
LASERSTRAHLUNG
-27
1.4.1
ALLGEMEINE
PHYSIKALISCHE
GRUNDLAGEN
DES
LASERPRINZIPS
-27
1.4.2
ENTSTEHUNG
VON
XECL-EXCIMER-LASERSTRAHLUNG
-31
1.5
WECHSELWIRKUNG
VON
LASERSTRAHLUNG
MIT
MATERIE
-33
2
ZIELE
DER
UNTERSUCHUNG
-37
3
MATERIAL
UND
METHODEN
-38
3.1
XECL-EXCIMER-LASERSYSTEM
-38
3.2
HERSTELLUNG
UND
VERARBEITUNG
DER
KERAMIKPROBEN
-39
3.2.1
VORBEREITUNG
DER
PROBEN
VON
VITA-MARK
II
-40
3.2.2
HERSTELLUNG
UND
VORBEREITUNG
DER
PROBEN
VON
EMPRESS
-41
3.2.3
HERSTELLUNG
UND
VORBEREITUNG
DER
PROBEN
VON
IN-CERAM
ALUMINA
-43
3.2.4
HERSTELLUNG
UND
VORBEREITUNG
DER
PROBEN
VON
IN-CERAM
SPINELL
-44
3.3
BESTRAHLUNG
DER
KERAMIKPROBEN
-45
3.4
BESTIMMUNG
DER
OBERFLAECHENRAUIGKEIT
DER
KERAMIKPROBEN
-47
3.5
RASTERELEKTRONENMIKROSKOPISCHE
UNTERSUCHUNGEN
DER
LASERBESTRAHLTEN
KERAMIKOBERFLAECHE
-48
3.6
UNTERSUCHUNG
DER
LASERBESTRAHLTEN
KERAMIKOBERFLAECHE
MIT
DEM
YYATOMIC
FORCE
MICROSCOPE
"
-48
3.7
STATISTISCHE
AUSWERTUNG
-49
4
ERGEBNISSE
-50
4.1
RAUIGKEIT
VON
LASERBESTRAHLTEN
KERAMIKOBERFLAECHEN
-50
4.1.1
OBERFLAECHENRAUIGKEIT
AUF
PROBEN
DER
KERAMIK
VITA-MARKJI
-50
4.1.2
OBERFLAECHENRAUIGKEIT
AUF
PROBEN
DER
KERAMIK
EMPRESS
-51
-
4.1.3
OBERFLAECHENRAUIGKEIT
AUFPROBEN
DER
KERAMIK
IN-CERAM
ALUMINA
-52
4.1.4
OBERFLAECHENRAUIGKEIT
AUFPROBEN
DER
KERAMIK
IN-CERAM
SPINELL
-53
4.2
RASTERELEKTRONENMIKROSKOPISCHE
DARSTELLUNG
DER
KERAMIKOBERFLAECHEN
-54
4.2.1
DARSTELLUNG
DER
OBERFLAECHE
VON
VITA
MARK
II
-54
4.2.2
DARSTELLUNG
DER
OBERFLAECHE
VON
EMPRESS
-57
4.2.3
DARSTELLUNG
DER
OBERFLAECHE
VON
IN-CERAM
ALUMINA
-60
4.2.4
DARSTELLUNG
DER
OBERFLAECHE
VON
IN-CERAM
SPINELL
-63
4.3
DARSTELLUNG
VON
KERAMIKOBERFLAECHEN
MIT
DEM
YYATOMIC
FORCE
MICROSCOPE
"
-66
4.4
ERGEBNISSE
DER
STATISTISCHEN
ANALYSE
-69
5
DISKUSSION
-71
5.1
VERSUCHSAUFBAU
-71
5.2
BESTIMMUNG
DER
OBERFLAECHENRAUIGKEIT
-72
5.3
OBERFLAECHENRAUIGKEIT
NACH
BEARBEITUNG
MIT
DER
XECL-EXCIMER
LASERSTRAHLUNG
-74
5.4
VERGLEICH
DER
OBERFLAECHENRAUIGKEIT
NACH
BEARBEITUNG
MIT
DER
XECL
EXCIMER-LASERSTRAHLUNG
UND
KONVENTIONELLEN
MECHANISCHEN
VERFAHREN
-76
5.5
QUALITAET
DER
ULTRASTRUKTUR
VON
KERAMIKOBERFLAECHEN
NACH
BEARBEITUNG
MIT
DER
XECL-EXCIMER-LASERSTRAHLUNG
-79
5.6
WIRKUNGSMECHANISMUS
DER
XECL-EXCIMER-LASERSTRAHLUNG
AUF
KERAMISCHE
WERKSTOFFE
-82
6
ZUSAMMENFASSUNG
-85
7
LITERATUR
-87
8
LEBENSLAUF
-100
8 |
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