Breitbandige On-Wafer-Meßverfahren zur Bestimmung des elektrodynamischen Verhaltens planarer Leitungssysteme in der Mikroelektronik:
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
---|---|
Format: | Buch |
Sprache: | German |
Veröffentlicht: |
Göttingen
Cuvillier
2002
|
Ausgabe: | 1. Aufl. |
Schlagworte: | |
Beschreibung: | Zugl.: Hannover, Univ., Diss., 2002 |
Beschreibung: | XVIII, 135 S. Ill., graph. Darst. |
ISBN: | 3898733785 |
Internformat
MARC
LEADER | 00000nam a22000008c 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | BV014257320 | ||
003 | DE-604 | ||
005 | 20021128 | ||
007 | t | ||
008 | 020416s2002 gw ad|| m||| 00||| ger d | ||
016 | 7 | |a 964184711 |2 DE-101 | |
020 | |a 3898733785 |9 3-89873-378-5 | ||
035 | |a (OCoLC)248082372 | ||
035 | |a (DE-599)BVBBV014257320 | ||
040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
041 | 0 | |a ger | |
044 | |a gw |c DE | ||
049 | |a DE-703 | ||
100 | 1 | |a Arz, Uwe |d 1968- |e Verfasser |0 (DE-588)123707781 |4 aut | |
245 | 1 | 0 | |a Breitbandige On-Wafer-Meßverfahren zur Bestimmung des elektrodynamischen Verhaltens planarer Leitungssysteme in der Mikroelektronik |c von Uwe Arz |
250 | |a 1. Aufl. | ||
264 | 1 | |a Göttingen |b Cuvillier |c 2002 | |
300 | |a XVIII, 135 S. |b Ill., graph. Darst. | ||
336 | |b txt |2 rdacontent | ||
337 | |b n |2 rdamedia | ||
338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
500 | |a Zugl.: Hannover, Univ., Diss., 2002 | ||
650 | 4 | |a CMOS-Schaltung - Wellenwiderstand <Elektrotechnik> - Leitungsbelag - Streuparameter - Kalibrieren <Messtechnik> - Leitungsverlust | |
650 | 0 | 7 | |a Streuparameter |0 (DE-588)4183691-1 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Leitungsbelag |0 (DE-588)4237119-3 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Kalibrieren |g Messtechnik |0 (DE-588)4198763-9 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a CMOS-Schaltung |0 (DE-588)4148111-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Wellenwiderstand |g Elektrotechnik |0 (DE-588)4189556-3 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Leitungsverlust |0 (DE-588)4167343-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
689 | 0 | 0 | |a CMOS-Schaltung |0 (DE-588)4148111-2 |D s |
689 | 0 | 1 | |a Wellenwiderstand |g Elektrotechnik |0 (DE-588)4189556-3 |D s |
689 | 0 | 2 | |a Leitungsbelag |0 (DE-588)4237119-3 |D s |
689 | 0 | 3 | |a Streuparameter |0 (DE-588)4183691-1 |D s |
689 | 0 | 4 | |a Kalibrieren |g Messtechnik |0 (DE-588)4198763-9 |D s |
689 | 0 | 5 | |a Leitungsverlust |0 (DE-588)4167343-8 |D s |
689 | 0 | |5 DE-604 | |
999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-009777226 |
Datensatz im Suchindex
_version_ | 1804129147876802560 |
---|---|
any_adam_object | |
author | Arz, Uwe 1968- |
author_GND | (DE-588)123707781 |
author_facet | Arz, Uwe 1968- |
author_role | aut |
author_sort | Arz, Uwe 1968- |
author_variant | u a ua |
building | Verbundindex |
bvnumber | BV014257320 |
ctrlnum | (OCoLC)248082372 (DE-599)BVBBV014257320 |
edition | 1. Aufl. |
format | Book |
fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01958nam a22004818c 4500</leader><controlfield tag="001">BV014257320</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20021128 </controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">020416s2002 gw ad|| m||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="016" ind1="7" ind2=" "><subfield code="a">964184711</subfield><subfield code="2">DE-101</subfield></datafield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3898733785</subfield><subfield code="9">3-89873-378-5</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)248082372</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV014257320</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="044" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">gw</subfield><subfield code="c">DE</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-703</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Arz, Uwe</subfield><subfield code="d">1968-</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="0">(DE-588)123707781</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Breitbandige On-Wafer-Meßverfahren zur Bestimmung des elektrodynamischen Verhaltens planarer Leitungssysteme in der Mikroelektronik</subfield><subfield code="c">von Uwe Arz</subfield></datafield><datafield tag="250" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">1. Aufl.</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Göttingen</subfield><subfield code="b">Cuvillier</subfield><subfield code="c">2002</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">XVIII, 135 S.</subfield><subfield code="b">Ill., graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Zugl.: Hannover, Univ., Diss., 2002</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="4"><subfield code="a">CMOS-Schaltung - Wellenwiderstand <Elektrotechnik> - Leitungsbelag - Streuparameter - Kalibrieren <Messtechnik> - Leitungsverlust</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Streuparameter</subfield><subfield code="0">(DE-588)4183691-1</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Leitungsbelag</subfield><subfield code="0">(DE-588)4237119-3</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Kalibrieren</subfield><subfield code="g">Messtechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4198763-9</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">CMOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4148111-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Wellenwiderstand</subfield><subfield code="g">Elektrotechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4189556-3</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Leitungsverlust</subfield><subfield code="0">(DE-588)4167343-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">CMOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4148111-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Wellenwiderstand</subfield><subfield code="g">Elektrotechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4189556-3</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Leitungsbelag</subfield><subfield code="0">(DE-588)4237119-3</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="3"><subfield code="a">Streuparameter</subfield><subfield code="0">(DE-588)4183691-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="4"><subfield code="a">Kalibrieren</subfield><subfield code="g">Messtechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4198763-9</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="5"><subfield code="a">Leitungsverlust</subfield><subfield code="0">(DE-588)4167343-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-009777226</subfield></datafield></record></collection> |
genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
genre_facet | Hochschulschrift |
id | DE-604.BV014257320 |
illustrated | Illustrated |
indexdate | 2024-07-09T19:00:31Z |
institution | BVB |
isbn | 3898733785 |
language | German |
oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-009777226 |
oclc_num | 248082372 |
open_access_boolean | |
owner | DE-703 |
owner_facet | DE-703 |
physical | XVIII, 135 S. Ill., graph. Darst. |
publishDate | 2002 |
publishDateSearch | 2002 |
publishDateSort | 2002 |
publisher | Cuvillier |
record_format | marc |
spelling | Arz, Uwe 1968- Verfasser (DE-588)123707781 aut Breitbandige On-Wafer-Meßverfahren zur Bestimmung des elektrodynamischen Verhaltens planarer Leitungssysteme in der Mikroelektronik von Uwe Arz 1. Aufl. Göttingen Cuvillier 2002 XVIII, 135 S. Ill., graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Zugl.: Hannover, Univ., Diss., 2002 CMOS-Schaltung - Wellenwiderstand <Elektrotechnik> - Leitungsbelag - Streuparameter - Kalibrieren <Messtechnik> - Leitungsverlust Streuparameter (DE-588)4183691-1 gnd rswk-swf Leitungsbelag (DE-588)4237119-3 gnd rswk-swf Kalibrieren Messtechnik (DE-588)4198763-9 gnd rswk-swf CMOS-Schaltung (DE-588)4148111-2 gnd rswk-swf Wellenwiderstand Elektrotechnik (DE-588)4189556-3 gnd rswk-swf Leitungsverlust (DE-588)4167343-8 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content CMOS-Schaltung (DE-588)4148111-2 s Wellenwiderstand Elektrotechnik (DE-588)4189556-3 s Leitungsbelag (DE-588)4237119-3 s Streuparameter (DE-588)4183691-1 s Kalibrieren Messtechnik (DE-588)4198763-9 s Leitungsverlust (DE-588)4167343-8 s DE-604 |
spellingShingle | Arz, Uwe 1968- Breitbandige On-Wafer-Meßverfahren zur Bestimmung des elektrodynamischen Verhaltens planarer Leitungssysteme in der Mikroelektronik CMOS-Schaltung - Wellenwiderstand <Elektrotechnik> - Leitungsbelag - Streuparameter - Kalibrieren <Messtechnik> - Leitungsverlust Streuparameter (DE-588)4183691-1 gnd Leitungsbelag (DE-588)4237119-3 gnd Kalibrieren Messtechnik (DE-588)4198763-9 gnd CMOS-Schaltung (DE-588)4148111-2 gnd Wellenwiderstand Elektrotechnik (DE-588)4189556-3 gnd Leitungsverlust (DE-588)4167343-8 gnd |
subject_GND | (DE-588)4183691-1 (DE-588)4237119-3 (DE-588)4198763-9 (DE-588)4148111-2 (DE-588)4189556-3 (DE-588)4167343-8 (DE-588)4113937-9 |
title | Breitbandige On-Wafer-Meßverfahren zur Bestimmung des elektrodynamischen Verhaltens planarer Leitungssysteme in der Mikroelektronik |
title_auth | Breitbandige On-Wafer-Meßverfahren zur Bestimmung des elektrodynamischen Verhaltens planarer Leitungssysteme in der Mikroelektronik |
title_exact_search | Breitbandige On-Wafer-Meßverfahren zur Bestimmung des elektrodynamischen Verhaltens planarer Leitungssysteme in der Mikroelektronik |
title_full | Breitbandige On-Wafer-Meßverfahren zur Bestimmung des elektrodynamischen Verhaltens planarer Leitungssysteme in der Mikroelektronik von Uwe Arz |
title_fullStr | Breitbandige On-Wafer-Meßverfahren zur Bestimmung des elektrodynamischen Verhaltens planarer Leitungssysteme in der Mikroelektronik von Uwe Arz |
title_full_unstemmed | Breitbandige On-Wafer-Meßverfahren zur Bestimmung des elektrodynamischen Verhaltens planarer Leitungssysteme in der Mikroelektronik von Uwe Arz |
title_short | Breitbandige On-Wafer-Meßverfahren zur Bestimmung des elektrodynamischen Verhaltens planarer Leitungssysteme in der Mikroelektronik |
title_sort | breitbandige on wafer meßverfahren zur bestimmung des elektrodynamischen verhaltens planarer leitungssysteme in der mikroelektronik |
topic | CMOS-Schaltung - Wellenwiderstand <Elektrotechnik> - Leitungsbelag - Streuparameter - Kalibrieren <Messtechnik> - Leitungsverlust Streuparameter (DE-588)4183691-1 gnd Leitungsbelag (DE-588)4237119-3 gnd Kalibrieren Messtechnik (DE-588)4198763-9 gnd CMOS-Schaltung (DE-588)4148111-2 gnd Wellenwiderstand Elektrotechnik (DE-588)4189556-3 gnd Leitungsverlust (DE-588)4167343-8 gnd |
topic_facet | CMOS-Schaltung - Wellenwiderstand <Elektrotechnik> - Leitungsbelag - Streuparameter - Kalibrieren <Messtechnik> - Leitungsverlust Streuparameter Leitungsbelag Kalibrieren Messtechnik CMOS-Schaltung Wellenwiderstand Elektrotechnik Leitungsverlust Hochschulschrift |
work_keys_str_mv | AT arzuwe breitbandigeonwafermeßverfahrenzurbestimmungdeselektrodynamischenverhaltensplanarerleitungssystemeindermikroelektronik |