Die Risstiefenmessung nach dem Potential-Sonden-Verfahren:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Deutsch, Volker (VerfasserIn), Platte, Michael (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Wuppertal Castell-Verl. [u.a.] 2000
Schriftenreihe:ZfP - kompakt und verständlich 4
Schlagworte:
Beschreibung:33 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3934255043

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