Optical measurement and nondestructive testing: techniques and applications ; 8 - 10 November 2000, Beijing, China
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 2000
Schriftenreihe:Proceedings of SPIE / Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers 4221
Schlagworte:
Beschreibung:XIX, 468 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0819438928

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