IEEE transactions on device and materials reliability:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Institute of Electrical and Electronics Engineers (VerfasserIn)
Format: Elektronisch Zeitschrift
Sprache:English
Veröffentlicht: New York, NY IEEE 2001-
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Volltext
Veröffentlicht:1.2001 -
Beschreibung:Gesehen am 05.12.06
Beschreibung:Online-Ressource
ISSN:1558-2574
1530-4388