Machine vision applications in industrial inspection VII: 25 - 26 January 1999, San Jose, California
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 1999
Schriftenreihe:Proceedings of SPIE / Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers 3652
Schlagworte:
Beschreibung:IX, 262 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0819431230

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