Nondestructive characterization of materials X: proceedings of the 10th International Symposium on Nondestructive Characterization of Materials, 26 - 30 June 2000, Karuizawa, Japan
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Amsterdam [u.a.] Elsevier 2001
Ausgabe:1. ed.
Schlagworte:
Beschreibung:XII, 421 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0080437990

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!