Untersuchung von Punktdefekten in Silicium mit Hilfe der Platindiffusion:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Quast, Fabian 1969- (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Aachen Shaker 2001
Schriftenreihe:Erlanger Berichte Mikroelektronik 2001,1
Schlagworte:
Beschreibung:Zugl.: Erlangen-Nürnberg, Univ., Diss., 2001
Beschreibung:179, XVIII S. Ill., graph. Darst. : 21 cm
ISBN:3826593634

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