In situ real time characterization of thin films:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York [u.a.] Wiley 2001
Schriftenreihe:A Wiley interscience publication
Schlagworte:
Beschreibung:XI, 263 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0471241415

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