(1998). Three-dimensional imaging, optical metrology, and inspection IV. SPIE.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Three-dimensional Imaging, Optical Metrology, and Inspection IV. Bellingham, Wash: SPIE, 1998.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Three-dimensional Imaging, Optical Metrology, and Inspection IV. SPIE, 1998.
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