Proceedings: August 6 - 7, 2001, San Jose, California, USA
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Workshop on Memory Technology, Design and Testing San José, Calif (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Los Alamitos, Calif. [u.a.] IEEE Computer Soc. 2001
Schlagworte:
Beschreibung:VIII, 105 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0769512429

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