Abbildende Nanobereichsanalyse mit der Flugzeitmassenspektrometrie zerstäubter Ionen (TOF-SIMS) und Neutralteilchen (Laser-SNMS):
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INHALTSVERZEICHNIS
1 EINLEITUNG 1
2 GRUNDLAGEN DER SEKUNDAERIONEN- UND
NEUTRALTEILCHEN- MASSENSPEKTROMETRIE 4
2.1 ZERSTAUBUNGSPROZESS
4
2.2 IONISIERUNG H
2.2.1 INTRINSISCHE IONISIERUNG 11
2.2.2 PHOTOIONISIERUNG 12
2.3 QUANTITATIVE BESCHREIBUNG 21
2.4 FLUGZEIT-MASSENSPEKTROMETRIE 25
2.4.1 FLUGZEITPRINZIP 25
2.4.2 CHARAKTERISTISCHE EIGENSCHAFTEN EINES FLUGZEIT-MASSENSPEKTROMETERS
27
2.4.3 BETRIEBSARTEN 32
3 BESCHREIBUNG DER APPARATUR 36
3.1 PRIMAERIONENQUELLE 36
3.2 LASER 38
3.3 ANALYSATOR 38
3.4 IONEN-NACHWEISSYSTEM 39
3.4.1 DETEKTOR 39
3.4.2 REGISTRIERUNG 41
3.4.3 GESAMTSYSTEM 42
4 ERGEBNISSE UND DISKUSSION 53
4.1 METALLSTANDARDS 53
4.1.1 PRAEPARATION 53
4.1.2 ERGEBNISSE UND DISKUSSION , 54
4.1.3 MATRIXEFFEKTE DER SEKUNDAERTEILCHENEMISSION 62
4.2 PARTIKEL 66
4.2.1 DISPERGIERTE PARTIKEL 66
4.2.2 AEROSOLGENERIERTE URANPARTIKEL 91
4.3 STRUKTUREN 97
4.3.1 MAGNETLESEKOPF 97
4.3.2 GITTERKATALYSATOR 102
5 ZUSAMMENFASSENDE DISKUSSION 105
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