Atomic force microscopy, scanning tunneling microscopy 3:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York [u.a.] Kluwer Acad./Plenum Press 1999
Schlagworte:
Beschreibung:VIII, 210 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0306462974

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