(1999). Optical metrology: Proceedings of a conference held 18 - 19 July 1999, Denver, Colorado. SPIE Optical Engineering Press.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Optical Metrology: Proceedings of a Conference Held 18 - 19 July 1999, Denver, Colorado. Bellingham, Wash: SPIE Optical Engineering Press, 1999.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Optical Metrology: Proceedings of a Conference Held 18 - 19 July 1999, Denver, Colorado. SPIE Optical Engineering Press, 1999.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.