Optical metrology: proceedings of a conference held 18 - 19 July 1999, Denver, Colorado
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE Optical Engineering Press 1999
Schriftenreihe:Critical reviews of optical science and technology 72
Schlagworte:
Beschreibung:VI, 276 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0819432350

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