Scanning probe microscopy: [7th International Colloquium on ... held at Atagawa Haitsu, Shizuoka, from December 9 to 11, 1999]
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: Tokyo Japanese Journal of Applied Physics 2000
Schriftenreihe:Japanese journal of applied physics / 1 39,6,2
Schlagworte:
Beschreibung:Einzelaufn. eines Zs.-Heftes
Beschreibung:S.3701 - 3833 Ill., graph. Darst.

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