Entwicklung eines Mess- und Auswerteverfahrens zur röntgenographischen Analyse des Eigenspannungszustandes im Oberflächenbereich vielkristalliner Werkstoffe:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Genzel, Christoph (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Berlin HMI 1999
Schriftenreihe:Hahn-Meitner-Institut <Berlin>: Berichte des Hahn-Meitner-Instituts 569
Schlagworte:
Beschreibung:Zugl.: Berlin, Humboldt-Univ., Habil.-Schr., 1999
Beschreibung:XIII, 232 S. graph. Darst. : 30 cm

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