Entwicklung eines Mess- und Auswerteverfahrens zur röntgenographischen Analyse des Eigenspannungszustandes im Oberflächenbereich vielkristalliner Werkstoffe:
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
---|---|
Format: | Buch |
Sprache: | German |
Veröffentlicht: |
Berlin
HMI
1999
|
Schriftenreihe: | Hahn-Meitner-Institut <Berlin>: Berichte des Hahn-Meitner-Instituts
569 |
Schlagworte: | |
Beschreibung: | Zugl.: Berlin, Humboldt-Univ., Habil.-Schr., 1999 |
Beschreibung: | XIII, 232 S. graph. Darst. : 30 cm |
Internformat
MARC
LEADER | 00000nam a2200000 cb4500 | ||
---|---|---|---|
001 | BV013570758 | ||
003 | DE-604 | ||
005 | 20050207 | ||
007 | t | ||
008 | 010130s1999 gw d||| tm|| 00||| ger d | ||
016 | 7 | |a 960542124 |2 DE-101 | |
035 | |a (OCoLC)47314449 | ||
035 | |a (DE-599)BVBBV013570758 | ||
040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
041 | 0 | |a ger | |
044 | |a gw |c DE | ||
049 | |a DE-91G |a DE-12 |a DE-703 | ||
084 | |a UQ 5600 |0 (DE-625)146528: |2 rvk | ||
084 | |a WER 770d |2 stub | ||
088 | |a HMI B 569 | ||
100 | 1 | |a Genzel, Christoph |e Verfasser |4 aut | |
245 | 1 | 0 | |a Entwicklung eines Mess- und Auswerteverfahrens zur röntgenographischen Analyse des Eigenspannungszustandes im Oberflächenbereich vielkristalliner Werkstoffe |c vorgelegt von Christoph Genzel. [Hahn-Meitner-Institut Berlin ; Berlin Neutron Scattering Center] |
264 | 1 | |a Berlin |b HMI |c 1999 | |
300 | |a XIII, 232 S. |b graph. Darst. : 30 cm | ||
336 | |b txt |2 rdacontent | ||
337 | |b n |2 rdamedia | ||
338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
490 | 1 | |a Hahn-Meitner-Institut <Berlin>: Berichte des Hahn-Meitner-Instituts |v 569 | |
490 | 0 | |a Berichte aus dem Zentrum für Eigenspannungsanalyse | |
500 | |a Zugl.: Berlin, Humboldt-Univ., Habil.-Schr., 1999 | ||
650 | 7 | |a Hochschulschrift |2 gtt | |
650 | 0 | 7 | |a Röntgenographie |0 (DE-588)4178316-5 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Polykristall |0 (DE-588)4188261-1 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Oberfläche |0 (DE-588)4042907-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Eigenspannung |0 (DE-588)4013788-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
689 | 0 | 0 | |a Polykristall |0 (DE-588)4188261-1 |D s |
689 | 0 | 1 | |a Oberfläche |0 (DE-588)4042907-6 |D s |
689 | 0 | 2 | |a Eigenspannung |0 (DE-588)4013788-0 |D s |
689 | 0 | 3 | |a Röntgenographie |0 (DE-588)4178316-5 |D s |
689 | 0 | |5 DE-604 | |
830 | 0 | |a Hahn-Meitner-Institut <Berlin>: Berichte des Hahn-Meitner-Instituts |v 569 |w (DE-604)BV024777415 |9 569 | |
999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-009268370 |
Datensatz im Suchindex
_version_ | 1804128371871842304 |
---|---|
any_adam_object | |
author | Genzel, Christoph |
author_facet | Genzel, Christoph |
author_role | aut |
author_sort | Genzel, Christoph |
author_variant | c g cg |
building | Verbundindex |
bvnumber | BV013570758 |
classification_rvk | UQ 5600 |
classification_tum | WER 770d |
ctrlnum | (OCoLC)47314449 (DE-599)BVBBV013570758 |
discipline | Physik Werkstoffwissenschaften |
format | Book |
fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01972nam a2200481 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV013570758</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20050207 </controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">010130s1999 gw d||| tm|| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="016" ind1="7" ind2=" "><subfield code="a">960542124</subfield><subfield code="2">DE-101</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)47314449</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV013570758</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="044" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">gw</subfield><subfield code="c">DE</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-91G</subfield><subfield code="a">DE-12</subfield><subfield code="a">DE-703</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">UQ 5600</subfield><subfield code="0">(DE-625)146528:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">WER 770d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="088" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">HMI B 569</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Genzel, Christoph</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Entwicklung eines Mess- und Auswerteverfahrens zur röntgenographischen Analyse des Eigenspannungszustandes im Oberflächenbereich vielkristalliner Werkstoffe</subfield><subfield code="c">vorgelegt von Christoph Genzel. [Hahn-Meitner-Institut Berlin ; Berlin Neutron Scattering Center]</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Berlin</subfield><subfield code="b">HMI</subfield><subfield code="c">1999</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">XIII, 232 S.</subfield><subfield code="b">graph. Darst. : 30 cm</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Hahn-Meitner-Institut <Berlin>: Berichte des Hahn-Meitner-Instituts</subfield><subfield code="v">569</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">Berichte aus dem Zentrum für Eigenspannungsanalyse</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Zugl.: Berlin, Humboldt-Univ., Habil.-Schr., 1999</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="7"><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gtt</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Röntgenographie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4178316-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Polykristall</subfield><subfield code="0">(DE-588)4188261-1</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Oberfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4042907-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Eigenspannung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4013788-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Polykristall</subfield><subfield code="0">(DE-588)4188261-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Oberfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4042907-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Eigenspannung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4013788-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="3"><subfield code="a">Röntgenographie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4178316-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="830" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Hahn-Meitner-Institut <Berlin>: Berichte des Hahn-Meitner-Instituts</subfield><subfield code="v">569</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV024777415</subfield><subfield code="9">569</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-009268370</subfield></datafield></record></collection> |
genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
genre_facet | Hochschulschrift |
id | DE-604.BV013570758 |
illustrated | Illustrated |
indexdate | 2024-07-09T18:48:11Z |
institution | BVB |
language | German |
oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-009268370 |
oclc_num | 47314449 |
open_access_boolean | |
owner | DE-91G DE-BY-TUM DE-12 DE-703 |
owner_facet | DE-91G DE-BY-TUM DE-12 DE-703 |
physical | XIII, 232 S. graph. Darst. : 30 cm |
publishDate | 1999 |
publishDateSearch | 1999 |
publishDateSort | 1999 |
publisher | HMI |
record_format | marc |
series | Hahn-Meitner-Institut <Berlin>: Berichte des Hahn-Meitner-Instituts |
series2 | Hahn-Meitner-Institut <Berlin>: Berichte des Hahn-Meitner-Instituts Berichte aus dem Zentrum für Eigenspannungsanalyse |
spelling | Genzel, Christoph Verfasser aut Entwicklung eines Mess- und Auswerteverfahrens zur röntgenographischen Analyse des Eigenspannungszustandes im Oberflächenbereich vielkristalliner Werkstoffe vorgelegt von Christoph Genzel. [Hahn-Meitner-Institut Berlin ; Berlin Neutron Scattering Center] Berlin HMI 1999 XIII, 232 S. graph. Darst. : 30 cm txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Hahn-Meitner-Institut <Berlin>: Berichte des Hahn-Meitner-Instituts 569 Berichte aus dem Zentrum für Eigenspannungsanalyse Zugl.: Berlin, Humboldt-Univ., Habil.-Schr., 1999 Hochschulschrift gtt Röntgenographie (DE-588)4178316-5 gnd rswk-swf Polykristall (DE-588)4188261-1 gnd rswk-swf Oberfläche (DE-588)4042907-6 gnd rswk-swf Eigenspannung (DE-588)4013788-0 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Polykristall (DE-588)4188261-1 s Oberfläche (DE-588)4042907-6 s Eigenspannung (DE-588)4013788-0 s Röntgenographie (DE-588)4178316-5 s DE-604 Hahn-Meitner-Institut <Berlin>: Berichte des Hahn-Meitner-Instituts 569 (DE-604)BV024777415 569 |
spellingShingle | Genzel, Christoph Entwicklung eines Mess- und Auswerteverfahrens zur röntgenographischen Analyse des Eigenspannungszustandes im Oberflächenbereich vielkristalliner Werkstoffe Hahn-Meitner-Institut <Berlin>: Berichte des Hahn-Meitner-Instituts Hochschulschrift gtt Röntgenographie (DE-588)4178316-5 gnd Polykristall (DE-588)4188261-1 gnd Oberfläche (DE-588)4042907-6 gnd Eigenspannung (DE-588)4013788-0 gnd |
subject_GND | (DE-588)4178316-5 (DE-588)4188261-1 (DE-588)4042907-6 (DE-588)4013788-0 (DE-588)4113937-9 |
title | Entwicklung eines Mess- und Auswerteverfahrens zur röntgenographischen Analyse des Eigenspannungszustandes im Oberflächenbereich vielkristalliner Werkstoffe |
title_auth | Entwicklung eines Mess- und Auswerteverfahrens zur röntgenographischen Analyse des Eigenspannungszustandes im Oberflächenbereich vielkristalliner Werkstoffe |
title_exact_search | Entwicklung eines Mess- und Auswerteverfahrens zur röntgenographischen Analyse des Eigenspannungszustandes im Oberflächenbereich vielkristalliner Werkstoffe |
title_full | Entwicklung eines Mess- und Auswerteverfahrens zur röntgenographischen Analyse des Eigenspannungszustandes im Oberflächenbereich vielkristalliner Werkstoffe vorgelegt von Christoph Genzel. [Hahn-Meitner-Institut Berlin ; Berlin Neutron Scattering Center] |
title_fullStr | Entwicklung eines Mess- und Auswerteverfahrens zur röntgenographischen Analyse des Eigenspannungszustandes im Oberflächenbereich vielkristalliner Werkstoffe vorgelegt von Christoph Genzel. [Hahn-Meitner-Institut Berlin ; Berlin Neutron Scattering Center] |
title_full_unstemmed | Entwicklung eines Mess- und Auswerteverfahrens zur röntgenographischen Analyse des Eigenspannungszustandes im Oberflächenbereich vielkristalliner Werkstoffe vorgelegt von Christoph Genzel. [Hahn-Meitner-Institut Berlin ; Berlin Neutron Scattering Center] |
title_short | Entwicklung eines Mess- und Auswerteverfahrens zur röntgenographischen Analyse des Eigenspannungszustandes im Oberflächenbereich vielkristalliner Werkstoffe |
title_sort | entwicklung eines mess und auswerteverfahrens zur rontgenographischen analyse des eigenspannungszustandes im oberflachenbereich vielkristalliner werkstoffe |
topic | Hochschulschrift gtt Röntgenographie (DE-588)4178316-5 gnd Polykristall (DE-588)4188261-1 gnd Oberfläche (DE-588)4042907-6 gnd Eigenspannung (DE-588)4013788-0 gnd |
topic_facet | Hochschulschrift Röntgenographie Polykristall Oberfläche Eigenspannung |
volume_link | (DE-604)BV024777415 |
work_keys_str_mv | AT genzelchristoph entwicklungeinesmessundauswerteverfahrenszurrontgenographischenanalysedeseigenspannungszustandesimoberflachenbereichvielkristallinerwerkstoffe |