Untersuchungen zur Defektstruktur an hochohmigem p-CdTe:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Scholz, Klaus (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 2000
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:Karlsruhe, Univ., Diss., 2000
Beschreibung:VII, 90 S. graph. Darst. : 30 cm

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