Strukturelle und elektronische Eigenschaften amorpher Silizium-Suboxide:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Janssen, Rainer (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: München Walter-Schottky-Inst. 2000
Ausgabe:1. Aufl.
Schriftenreihe:Selected topics of semiconductor physics and technology 31
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:IV, 275 S. graph. Darst. : 21 cm
ISBN:3932749316

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