Goodhew, P. J., Humphreys, J. F., & Beanland, R. (2001). Electron microscopy and analysis (3. ed.). Taylor & Francis.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Goodhew, Peter J., John F. Humphreys, und Richard Beanland. Electron Microscopy and Analysis. 3. ed. London [u.a.]: Taylor & Francis, 2001.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Goodhew, Peter J., et al. Electron Microscopy and Analysis. 3. ed. Taylor & Francis, 2001.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.