Schüttler, M. (2000). Optische Nahfeldmikroskopie: Untersuchungen zur Scherkraft-Abstandregelung. Görich und Weiershäuser.
Chicago Style (17th ed.) CitationSchüttler, Martin. Optische Nahfeldmikroskopie: Untersuchungen Zur Scherkraft-Abstandregelung. Marburg: Görich und Weiershäuser, 2000.
MLA (9th ed.) CitationSchüttler, Martin. Optische Nahfeldmikroskopie: Untersuchungen Zur Scherkraft-Abstandregelung. Görich und Weiershäuser, 2000.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.