Mustererkennung 2000: 22. DAGM-Symposium, Kiel, 13. - 15. September 2000
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Bibliographic Details
Format: Conference Proceeding Book
Language:German
English
Published: Berlin u.a. Springer 2000
Series:Informatik aktuell
Subjects:
Online Access:Inhaltsverzeichnis
Item Description:Beitr. teilw. dt., teilw. engl.
Physical Description:XV, 490 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3540678867

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