Mustererkennung 2000: 22. DAGM-Symposium, Kiel, 13. - 15. September 2000
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:German
English
Veröffentlicht: Berlin u.a. Springer 2000
Schriftenreihe:Informatik aktuell
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:Beitr. teilw. dt., teilw. engl.
Beschreibung:XV, 490 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3540678867

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