(2000). Mustererkennung 2000: 22. DAGM-Symposium, Kiel, 13. - 15. September 2000. Springer.
Chicago Style (17th ed.) CitationMustererkennung 2000: 22. DAGM-Symposium, Kiel, 13. - 15. September 2000. Berlin u.a: Springer, 2000.
MLA (9th ed.) CitationMustererkennung 2000: 22. DAGM-Symposium, Kiel, 13. - 15. September 2000. Springer, 2000.
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