Rastermikroskopie in der Materialprüfung: 27. - 29. März 1996, Halle
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:German
English
Veröffentlicht: Berlin DVM 1996
Schriftenreihe:Vortragsveranstaltung des Arbeitskreises Rastermikroskopie in der Materialprüfung 17
DVM-Bericht 517
Schlagworte:
Beschreibung:Literaturangaben. - Beitr. teilw. dt., teilw. engl.
Beschreibung:366 S. Ill., graph. Darst. : 21 cm

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