Optoelectronic metrology: 28 - 30 September 1998, Ĺańcut, Poland
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 1998
Schriftenreihe:Society of Photon Optical Instrumentation Engineers: Proceedings of SPIE 4018
Schlagworte:
Beschreibung:XIV, 152 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0819436445

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