Ultrafast phenomena in semiconductors IV: 27 - 28 January 2000, San Jose, California
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 2000
Schriftenreihe:Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers: Proceedings of SPIE 3940
Schlagworte:
Beschreibung:VII, 288 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0819435570

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!