Defects and diffusion in semiconductors: an annual retrospective III
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Zuerich-Uetikon Scitec Publ. 2000
Schriftenreihe:[Diffusion and defect data / A] 183/185
Schlagworte:
Beschreibung:Einzelaufnahme eines Zeitschr.-Bd.
Beschreibung:VIII, 543 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3908450543

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