Records of the 2000 IEEE International Workshop on Memory Technololgy, Design and Testing: 7 - 8 August 2000, San José, California
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Workshop on Memory Technology, Design and Testing San José, Calif (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Los Alamitos, Calif. [u.a.] IEEE Computer Soc. 2000
Schlagworte:
Beschreibung:X, 131 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0769506895
0769506909
0769506917

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