Recent development of electron microscopy: proceedings of the Second Chinese-Japanese Electron Microscopy Seminar held in Beijing from October 17 to October 19 in 1983
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Tokyo Business Center for Acad. Soc. Japan 1985
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:279 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:4930813115

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