Oberflächenmeßtechnik zur Beurteilung und Optimierung technischer Funktionsflächen:
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
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| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Aachen
Shaker
2000
|
| Schriftenreihe: | Berichte aus dem Institut für Mess- und Regelungstechnik der Universität Hannover
|
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Inhaltsverzeichnis |
| Beschreibung: | Zugl.: Hannover, Techn. Univ., Habil.-Schr., 2000. - Erscheint: 15. Juni 2000 |
| Beschreibung: | X, 191 S. Ill., graph. Darst. |
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INHALT
FORMELZEICHEN
V
1
EINFUEHRUNG
1
2
AUFGABENBEREICHE
IN
DER
OBERFLAECHENMESSTECHNIK
6
2.1
ERFASSEN
DER
OBERFLAECHENFEINGESTALT
DURCH
3-DIMENSIONALES
ODER
2-DIMENSIONALES
MESSEN
.
5
2.2
TRENNUNG
DER
GESTALTABWEICHUNGEN
VERSCHIEDENER
ORDNUNG
.
7
2.3
MESSSIGNALAUSWERTUNG
ZUR
CHARAKTERISIERUNG
TECHNISCHER
OBERFLAECHEN
.
11
2.4
FUNKTIONS
ODER
FERTIGUNGSBEZOGENES
MESSEN
DER
OBERFLAECHENFEINGESTALT.
12
2.5
ERWEITERUNG
DER
MESSMOEGLICHKEITEN
DURCH
OPTISCHE
VERFAHREN
.
14
3
SIGNALVERARBEITUNG
ZUR
TRENNUNG
DER
GESTALTABWEICHUNGEN
VERSCHIEDENER
ORDNUNG
19
3.1
UNTERSCHIEDLICHE
REFERENZLINIENSYSTEME
.
19
3.1.1
ENVELOPPESYSTEM
NACH
V.
WEINGRABER.
19
3.1.2
MOTIF-SYSTEM
NACH
ISO
12085
.
21
3.1.3
MITTELLINIENSYSTEM
MIT
GAUSSSCHER
GEWICHTSFUNKTION
NACH
DIN
4777
BZW.
ISO
11562
.
23
3.2
NEUE
VERFAHREN
ZUR
RECHNERGESTUETZTEN,
FUNKTIONSORIENTIERTEN
FILTERUNG
VON
OBERFLAECHENPROFILEN
.
33
3.2.1
SONDERFILTERVERFAHREN
FUER
PLATEAUARTIGE
OBERFLAECHEN
NACH
DIN
4776
UND
ISO
13565,
TEIL
1
.
34
3.2.2
UNIVERSELLES
FILTERVERFAHREN
FUER
OBERFLAECHEN
BELIEBIGER
TYPOLOGIE
DURCH
ZUSAETZLICHE
WICHTUNG
DER
VERTIKALEN
PROFILEIGENSCHAFTEN
.
39
3.2.3
MODIFIZIERTES
GAUSSFILTER
FUER
DIE
RAUHEITS
UND
WELLIGKEITSMESSUNG
BEI
HOHEN
FORMANTEILEN
.
47
4
CHARAKTERISIERUNG
DER
OBERFLAECHENRAUHEIT
AUF
DER
GRUNDLAGE
VON
PROFILMESSUNGEN
59
4.1
ALLGEMEINES
.
59
4.2
PROFILKENNGROESSEN
.
60
4.3
STATISTISCHE
KENNFUNKTIONEN
.
63
4.3.1
AMPLITUDENDICHTEFUNKTION
.
63
4.3.2
AUTOKORRELATIONSFUNKTION
(AKF)
UND
SPEKTRALE
LEISTUNGSDICHTE
.
67
INHALT
5
ENTWICKLUNG
VON
KENNGROESSEN
ZUR
CHARAKTERISIERUNG
DER
ABBOTTSCHEN
MATERIALANTEILKURVE
76
5.1
3-GERADEN-MODELL
DER
ABBOTT-KURVE
NACH
DIN
4776
UND
ISO
13565,
TEIL
2
.
75
5.1.1
DEFINITION
UND
INTERPRETATION
DER
KENNGROESSEN
R
K
,
R
PK
,
R
VK
,
MRI
UND
MR2
.
75
5.1.2
BESTIMMUNG
DER
SCHMIERFILMHOEHE
IN
EHD-WAELZKONTAKTEN
AUS
BETRIEBSPARAMETERN
UND
DEN
KENNGROESSEN
R
K
,
R
PK
UND
R
VK
.
80
5.1.3
BEVORZUGTE
ANWENDUNGSBEREICHE
FIIR
DIE
KENNGROESSEN
DER
ABBOTT
KURVE
IN DER
INDUSTRIELLEN
PRAXIS
.
84
5.2
2-GERADENMODELL
DER
ABBOTT-KURVE
IM
WAHRSCHEINLICHKEITSNETZ
.
89
6
PROZESSNAHE
OBERFLAECHENPRUEFUNG
BEI
SPANENDEN
ENDBEARBEITUNGSVERFAHREN
93
6.1 INTEGRATION
DER
OBERFLAECHENPRUEFUNG
IN
DIE
FERTIGUNGSLINIE
.
93
6.2
PROZESSNAH
EINSETZBARE
OBERFLAECHENSENSOREN
.
95
6.3
FERTIGUNGSBEZOGENE
MESSSIGNALAUSWERTUNG
FUER
DIE
PROZESSNAHE
RAUHEITSMESSUNG
SPANEND
HERGESTELLTER
OBERFLAECHEN
.
101
7
3-DIMENSIONALE
ERFASSUNG
UND
BESCHREIBUNG
DER
OBERFLAECHENTOPOGRAPHIE
113
7.1
GRUNDSAETZLICHE
BETRACHTUNGEN
ZUR
3-DIMENSIONALEN
OBERFLAECHENANALYSE
UNTER
BERUECKSICHTIGUNG
DER
OBERFLAECHENTYPOLOGIE
.
113
7.2
STAND
DER
FORSCHUNG
ZUR
3-DIMENSIONALEN
CHARAKTERISIERUNG
TECHNISCHER
OBERFLAECHEN
.
115
7.3
EIGENE
FORSCHUNGSANSAETZE
ZUR
ENTWICKLUNG
VON
3D-KENNGROESSEN
ZUR
FUNKTIONSBEZOGENEN
BESCHREIBUNG
TECHNISCHER
OBERFLAECHEN.
117
7.3.1
ENTWICKLUNG
EINES
NEUEN
3D-FILTERVERFAHRENS,
FESTLEGUNG
VON
FILTERBANDBREITE
UND
MESSFELDGROESSE.
117
7.3.2
KENNGROESSEN
FUER
DIE
GEOMETRISCHE
AUSPRAEGUNG
VON
RAUHEITSKUPPEN
UND
RIEFENSTRUKTUREN
(3D-MODELL
IN
ANLEHNUNG
AN
DIN
4776)
.
120
7.3.3
EINFLUSS
DER
OBERFLAECHENSTRUKTUR
DER
WELLE
AUF
DAS
DICHTVERHALTEN
VON
RADIAL-WELLENDICHTRINGEN
.
125
8
OPTISCHE
OBERFLAECHENMESSVERFAHREN
137
8.1
INTEGRALE,
FLAECHENHAFTE
RAUHEITSMESSVERFAHREN
.
137
8.1.1
STREULICHTMESSVERFAHREN
.
138
8.1.2
SPECKLEMESSVERFAHREN
.
144
8.2
PROFILOMETRISCHE
MESSVERFAHREN
.
150
8.2.1
SCHRAEGBELEUCHTUNGSVERFAHREN
.
150
8.2.2
OPTISCHE
TASTER
NACH
DEM
AUTOFOKUSVERFAHREN.
152
INHALT
III
8.3
DREIDIMENSIONALE,
TOPOMETRISCHE
MESSVERFAHREN
.
156
8.3.1
MIKROSKOPISCHE
STREIFENPROJEKTION
.
157
8.3.2
INTERFERENZMIKROSKOPIE
.
165
8.3.3
KONFOKALE
MIKROSKOPIE.
174
9
ZUSAMMENFASSUNG
189 |
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