Sputterunterstützte Elektronenstrahl-Mikroanalyse: Entwicklung einer Methode zur quantitativen Bestimmung von Tiefenprofilen im Submikrometerbereich
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Bibliographic Details
Main Author: Richter, Silvia (Author)
Format: Book
Language:German
Published: Aachen Shaker 2000
Series:Berichte aus der Physik
Subjects:
Online Access:Inhaltsverzeichnis
Item Description:Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 2000
Physical Description:II, 116 S. Ill., graph. Darst. : 21 cm
ISBN:3826575016

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