APA (7th ed.) Citation

Richter, S. (2000). Sputterunterstützte Elektronenstrahl-Mikroanalyse: Entwicklung einer Methode zur quantitativen Bestimmung von Tiefenprofilen im Submikrometerbereich. Shaker.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Richter, Silvia. Sputterunterstützte Elektronenstrahl-Mikroanalyse: Entwicklung Einer Methode Zur Quantitativen Bestimmung Von Tiefenprofilen Im Submikrometerbereich. Aachen: Shaker, 2000.

MLA (9th ed.) Citation

Richter, Silvia. Sputterunterstützte Elektronenstrahl-Mikroanalyse: Entwicklung Einer Methode Zur Quantitativen Bestimmung Von Tiefenprofilen Im Submikrometerbereich. Shaker, 2000.