Richter, S. (2000). Sputterunterstützte Elektronenstrahl-Mikroanalyse: Entwicklung einer Methode zur quantitativen Bestimmung von Tiefenprofilen im Submikrometerbereich. Shaker.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Richter, Silvia. Sputterunterstützte Elektronenstrahl-Mikroanalyse: Entwicklung Einer Methode Zur Quantitativen Bestimmung Von Tiefenprofilen Im Submikrometerbereich. Aachen: Shaker, 2000.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Richter, Silvia. Sputterunterstützte Elektronenstrahl-Mikroanalyse: Entwicklung Einer Methode Zur Quantitativen Bestimmung Von Tiefenprofilen Im Submikrometerbereich. Shaker, 2000.
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