Schirach, R. (1998). Studien zum Einsatz der Raster-Tunnel-Mikroskopie und der lokalen Tunnel-Spektroskopie zur Nanocharakterisierung von Oberflächenmorphologien sowie der physikalischen und chemischen Oberflächeneigenschaften unter Umgebungsbedingung.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Schirach, Ralf-Jürgen. Studien Zum Einsatz Der Raster-Tunnel-Mikroskopie Und Der Lokalen Tunnel-Spektroskopie Zur Nanocharakterisierung Von Oberflächenmorphologien Sowie Der Physikalischen Und Chemischen Oberflächeneigenschaften Unter Umgebungsbedingung. 1998.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Schirach, Ralf-Jürgen. Studien Zum Einsatz Der Raster-Tunnel-Mikroskopie Und Der Lokalen Tunnel-Spektroskopie Zur Nanocharakterisierung Von Oberflächenmorphologien Sowie Der Physikalischen Und Chemischen Oberflächeneigenschaften Unter Umgebungsbedingung. 1998.