Studien zum Einsatz der Raster-Tunnel-Mikroskopie und der lokalen Tunnel-Spektroskopie zur Nanocharakterisierung von Oberflächenmorphologien sowie der physikalischen und chemischen Oberflächeneigenschaften unter Umgebungsbedingung:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Schirach, Ralf-Jürgen 1966- (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1998
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:V, 230 S. Ill., zahlr. graph. Darst. : 30 cm

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand! Inhaltsverzeichnis