Untersuchung des schichtsenkrechten elektronischen Transports und der optischen Eigenschaften von delta-dotierten Galliumarsenid-Übergittern:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Elpelt, Rudolf (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Erlangen Lehrstuhl für Mikrocharakterisierung 2000
Schriftenreihe:Physik mikrostrukturierter Halbleiter 13
Schlagworte:
Beschreibung:Zugl.: Erlangen-Nürnberg, Univ., Diss., 2000
Beschreibung:264 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3932392213

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!