Optoelektronisches Verhalten von Dünnschichtbauelementen aus amorphem und mikrokristallinem Silizium:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Zimmer, Jürgen (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Jülich Forschungszentrum, Zentralbibliothek 1999
Schriftenreihe:Forschungszentrum <Jülich>: Berichte des Forschungszentrums Jülich 3683
Schlagworte:
Beschreibung:Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 1999
Beschreibung:II, 173 S. Ill., graph. Darst. : 30 cm

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