Entwicklung von piezoelektrischen Positionierelementen und deren Validierung mit einem Transmissions-Elektronenmikroskop:
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
---|---|
Format: | Buch |
Sprache: | German English |
Veröffentlicht: |
Düsseldorf
VDI-Verl.
2000
|
Ausgabe: | Als Ms. gedr. |
Schriftenreihe: | Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI / 1]
323 |
Schlagworte: | |
Beschreibung: | Zugl.: Zürich, Techn. Hochsch., Diss. - Zsfassung in engl. Sprache |
Beschreibung: | XII, 115 S. Ill., graph. Darst. |
ISBN: | 318332301X |
Internformat
MARC
LEADER | 00000nam a2200000 cb4500 | ||
---|---|---|---|
001 | BV013071062 | ||
003 | DE-604 | ||
005 | 20010129 | ||
007 | t | ||
008 | 000328s2000 ad|| mm|| 00||| ger d | ||
020 | |a 318332301X |9 3-18-332301-X | ||
035 | |a (OCoLC)45544088 | ||
035 | |a (DE-599)BVBBV013071062 | ||
040 | |a DE-604 |b ger |e rakwb | ||
041 | 0 | |a ger |a eng | |
049 | |a DE-91G |a DE-210 |a DE-83 | ||
084 | |a MSR 825d |2 stub | ||
100 | 1 | |a Baumann, Daniel Guy |e Verfasser |4 aut | |
245 | 1 | 0 | |a Entwicklung von piezoelektrischen Positionierelementen und deren Validierung mit einem Transmissions-Elektronenmikroskop |c Daniel Guy Baumann |
250 | |a Als Ms. gedr. | ||
264 | 1 | |a Düsseldorf |b VDI-Verl. |c 2000 | |
300 | |a XII, 115 S. |b Ill., graph. Darst. | ||
336 | |b txt |2 rdacontent | ||
337 | |b n |2 rdamedia | ||
338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
490 | 1 | |a Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI / 1] |v 323 | |
500 | |a Zugl.: Zürich, Techn. Hochsch., Diss. - Zsfassung in engl. Sprache | ||
650 | 0 | 7 | |a Winkelmessung |0 (DE-588)4131446-3 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Goniometer |0 (DE-588)4157918-5 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Elektronenmikroskop |0 (DE-588)4014326-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Positionierung |0 (DE-588)4140478-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Lagemessung |0 (DE-588)4206329-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Durchstrahlungselektronenmikroskop |0 (DE-588)4123096-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Piezoelektrischer Aktor |0 (DE-588)4568836-9 |2 gnd |9 rswk-swf |
655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
689 | 0 | 0 | |a Goniometer |0 (DE-588)4157918-5 |D s |
689 | 0 | 1 | |a Positionierung |0 (DE-588)4140478-6 |D s |
689 | 0 | 2 | |a Piezoelektrischer Aktor |0 (DE-588)4568836-9 |D s |
689 | 0 | 3 | |a Durchstrahlungselektronenmikroskop |0 (DE-588)4123096-6 |D s |
689 | 0 | |5 DE-604 | |
689 | 1 | 0 | |a Lagemessung |0 (DE-588)4206329-2 |D s |
689 | 1 | |8 1\p |5 DE-604 | |
689 | 2 | 0 | |a Elektronenmikroskop |0 (DE-588)4014326-0 |D s |
689 | 2 | |8 2\p |5 DE-604 | |
689 | 3 | 0 | |a Winkelmessung |0 (DE-588)4131446-3 |D s |
689 | 3 | |8 3\p |5 DE-604 | |
810 | 2 | |a 1] |t Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI |v 323 |w (DE-604)BV001897066 |9 323 | |
999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-008905545 | ||
883 | 1 | |8 1\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
883 | 1 | |8 2\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
883 | 1 | |8 3\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk |
Datensatz im Suchindex
_version_ | 1804127768866193408 |
---|---|
any_adam_object | |
author | Baumann, Daniel Guy |
author_facet | Baumann, Daniel Guy |
author_role | aut |
author_sort | Baumann, Daniel Guy |
author_variant | d g b dg dgb |
building | Verbundindex |
bvnumber | BV013071062 |
classification_tum | MSR 825d |
ctrlnum | (OCoLC)45544088 (DE-599)BVBBV013071062 |
discipline | Mess-/Steuerungs-/Regelungs-/Automatisierungstechnik |
edition | Als Ms. gedr. |
format | Book |
fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>02463nam a2200577 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV013071062</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20010129 </controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">000328s2000 ad|| mm|| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">318332301X</subfield><subfield code="9">3-18-332301-X</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)45544088</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV013071062</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakwb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield><subfield code="a">eng</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-91G</subfield><subfield code="a">DE-210</subfield><subfield code="a">DE-83</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">MSR 825d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Baumann, Daniel Guy</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Entwicklung von piezoelektrischen Positionierelementen und deren Validierung mit einem Transmissions-Elektronenmikroskop</subfield><subfield code="c">Daniel Guy Baumann</subfield></datafield><datafield tag="250" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Als Ms. gedr.</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Düsseldorf</subfield><subfield code="b">VDI-Verl.</subfield><subfield code="c">2000</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">XII, 115 S.</subfield><subfield code="b">Ill., graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI / 1]</subfield><subfield code="v">323</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Zugl.: Zürich, Techn. Hochsch., Diss. - Zsfassung in engl. Sprache</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Winkelmessung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4131446-3</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Goniometer</subfield><subfield code="0">(DE-588)4157918-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Elektronenmikroskop</subfield><subfield code="0">(DE-588)4014326-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Positionierung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4140478-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Lagemessung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4206329-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Durchstrahlungselektronenmikroskop</subfield><subfield code="0">(DE-588)4123096-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Piezoelektrischer Aktor</subfield><subfield code="0">(DE-588)4568836-9</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Goniometer</subfield><subfield code="0">(DE-588)4157918-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Positionierung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4140478-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Piezoelektrischer Aktor</subfield><subfield code="0">(DE-588)4568836-9</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="3"><subfield code="a">Durchstrahlungselektronenmikroskop</subfield><subfield code="0">(DE-588)4123096-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Lagemessung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4206329-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="0"><subfield code="a">Elektronenmikroskop</subfield><subfield code="0">(DE-588)4014326-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2=" "><subfield code="8">2\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2="0"><subfield code="a">Winkelmessung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4131446-3</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2=" "><subfield code="8">3\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="810" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">1]</subfield><subfield code="t">Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI</subfield><subfield code="v">323</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV001897066</subfield><subfield code="9">323</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-008905545</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">2\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">3\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield></record></collection> |
genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
genre_facet | Hochschulschrift |
id | DE-604.BV013071062 |
illustrated | Illustrated |
indexdate | 2024-07-09T18:38:36Z |
institution | BVB |
isbn | 318332301X |
language | German English |
oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-008905545 |
oclc_num | 45544088 |
open_access_boolean | |
owner | DE-91G DE-BY-TUM DE-210 DE-83 |
owner_facet | DE-91G DE-BY-TUM DE-210 DE-83 |
physical | XII, 115 S. Ill., graph. Darst. |
publishDate | 2000 |
publishDateSearch | 2000 |
publishDateSort | 2000 |
publisher | VDI-Verl. |
record_format | marc |
series2 | Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI / 1] |
spelling | Baumann, Daniel Guy Verfasser aut Entwicklung von piezoelektrischen Positionierelementen und deren Validierung mit einem Transmissions-Elektronenmikroskop Daniel Guy Baumann Als Ms. gedr. Düsseldorf VDI-Verl. 2000 XII, 115 S. Ill., graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI / 1] 323 Zugl.: Zürich, Techn. Hochsch., Diss. - Zsfassung in engl. Sprache Winkelmessung (DE-588)4131446-3 gnd rswk-swf Goniometer (DE-588)4157918-5 gnd rswk-swf Elektronenmikroskop (DE-588)4014326-0 gnd rswk-swf Positionierung (DE-588)4140478-6 gnd rswk-swf Lagemessung (DE-588)4206329-2 gnd rswk-swf Durchstrahlungselektronenmikroskop (DE-588)4123096-6 gnd rswk-swf Piezoelektrischer Aktor (DE-588)4568836-9 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Goniometer (DE-588)4157918-5 s Positionierung (DE-588)4140478-6 s Piezoelektrischer Aktor (DE-588)4568836-9 s Durchstrahlungselektronenmikroskop (DE-588)4123096-6 s DE-604 Lagemessung (DE-588)4206329-2 s 1\p DE-604 Elektronenmikroskop (DE-588)4014326-0 s 2\p DE-604 Winkelmessung (DE-588)4131446-3 s 3\p DE-604 1] Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI 323 (DE-604)BV001897066 323 1\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 2\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 3\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk |
spellingShingle | Baumann, Daniel Guy Entwicklung von piezoelektrischen Positionierelementen und deren Validierung mit einem Transmissions-Elektronenmikroskop Winkelmessung (DE-588)4131446-3 gnd Goniometer (DE-588)4157918-5 gnd Elektronenmikroskop (DE-588)4014326-0 gnd Positionierung (DE-588)4140478-6 gnd Lagemessung (DE-588)4206329-2 gnd Durchstrahlungselektronenmikroskop (DE-588)4123096-6 gnd Piezoelektrischer Aktor (DE-588)4568836-9 gnd |
subject_GND | (DE-588)4131446-3 (DE-588)4157918-5 (DE-588)4014326-0 (DE-588)4140478-6 (DE-588)4206329-2 (DE-588)4123096-6 (DE-588)4568836-9 (DE-588)4113937-9 |
title | Entwicklung von piezoelektrischen Positionierelementen und deren Validierung mit einem Transmissions-Elektronenmikroskop |
title_auth | Entwicklung von piezoelektrischen Positionierelementen und deren Validierung mit einem Transmissions-Elektronenmikroskop |
title_exact_search | Entwicklung von piezoelektrischen Positionierelementen und deren Validierung mit einem Transmissions-Elektronenmikroskop |
title_full | Entwicklung von piezoelektrischen Positionierelementen und deren Validierung mit einem Transmissions-Elektronenmikroskop Daniel Guy Baumann |
title_fullStr | Entwicklung von piezoelektrischen Positionierelementen und deren Validierung mit einem Transmissions-Elektronenmikroskop Daniel Guy Baumann |
title_full_unstemmed | Entwicklung von piezoelektrischen Positionierelementen und deren Validierung mit einem Transmissions-Elektronenmikroskop Daniel Guy Baumann |
title_short | Entwicklung von piezoelektrischen Positionierelementen und deren Validierung mit einem Transmissions-Elektronenmikroskop |
title_sort | entwicklung von piezoelektrischen positionierelementen und deren validierung mit einem transmissions elektronenmikroskop |
topic | Winkelmessung (DE-588)4131446-3 gnd Goniometer (DE-588)4157918-5 gnd Elektronenmikroskop (DE-588)4014326-0 gnd Positionierung (DE-588)4140478-6 gnd Lagemessung (DE-588)4206329-2 gnd Durchstrahlungselektronenmikroskop (DE-588)4123096-6 gnd Piezoelektrischer Aktor (DE-588)4568836-9 gnd |
topic_facet | Winkelmessung Goniometer Elektronenmikroskop Positionierung Lagemessung Durchstrahlungselektronenmikroskop Piezoelektrischer Aktor Hochschulschrift |
volume_link | (DE-604)BV001897066 |
work_keys_str_mv | AT baumanndanielguy entwicklungvonpiezoelektrischenpositionierelementenundderenvalidierungmiteinemtransmissionselektronenmikroskop |