Proceedings of the International Conference on Scanning Probe Microscopy, Cantilever Sensors and Nanostructures: Seattle, USA, May 30 - June 1, 1999
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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Conference on Scanning Probe Microscopy, Cantilever Sensors and Nanostructures Seattle, Wash (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Amsterdam [u.a.] Elsevier 2000
Schriftenreihe:Ultramicroscopy 82,1/4
Schlagworte:
Beschreibung:Einzelaufnahme eines Zeitschr.-H.
Beschreibung:XIII, 314 S. zahlr. Ill. u. graph. Darst.

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