SIGME Symposium 73:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Symposium on Measurement and Evaluation Palo Alto, Calif (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York ACM 1973
Schlagworte:
Beschreibung:169 S. graph. Darst.

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