Recent development of electron microscopy 1987: proceedings of the Fourth Chinese-Japanese Electron Microscopy Seminar held in Kunming from November 8 to November 12 in 1987
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Tokyo Japanese Soc. of Electron Microscopy 1988
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:328 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:4930813204

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