Recent developments in optical gauge block metrology: 20 - 21 July 1998, San Diego, California
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 1998
Schriftenreihe:Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers: Proceedings of SPIE 3477
Schlagworte:
Beschreibung:XII, 308 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0819429325

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