Konzeption einer Datenbasis zur Spezifikation und Generierung von Prüfprogrammen für gemischt analog-digitale Schaltungen:
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
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| Format: | Abschlussarbeit Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Düsseldorf
VDI Verl.
1999
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| Schriftenreihe: | Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI / 20]
305 |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Inhaltsverzeichnis |
| Beschreibung: | 243 S. Ill., graph.Darst. |
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| adam_text | FORTSCHRITT-BERICHTE VDI REIHE 20 RECHNERUNTERSTUETZTE DIPL.-ING.
MAXMIEGLER, VERFAHREN GREDING NR. 305 KONZEPTION EINER DATENBASIS ZUR
SPEZIFIKATION UND GENERIERUNG VON PRUEFPROGRAMMEN FUER GEMISCHT
ANALOG-DIGITALE INTEGRIERTE SCHALTUNGEN INHALTSVERZEICHNIS
INHALTSVERZEICHNIS 1 EINLEITUNG 1 1.1 MOTIVATION 2 1.2 GLIEDERUNG DER
ARBEIT 3 1.3 EIGENER BEITRAG 3 2 GRUNDLAGEN ZUR
PRUEFPROGRAMMSPEZIFIKATION 4 2.1 ANALYSE DES AUFBAUS EINES
MIXED-SIGNAL-TESTERS 4 2.1.1 BESTANDTEILE DES TESTSYSTEMS 5 HAUPTEINHEIT
UND STEUERECHNER 6 PROGRAMMIERSTATION 6 TESTKOPF 7 LOADBOARD 9 2.1.2
TESTSYSTEMARCHITEKTUR 10 2.1.3 ANALYSE DER INSTRUMENTE . . 12 DC-QUELLEN
:,:: 13 DIGITALSYSTEM .,... . : 14 DARSTELLUNG VON LOGIKSIGNALEN 15 DC-,
AEOE-KESSUENG 20 SIGNALQUELLEN UND DARSTELLUNG ANALOGER SIGNALE 20
DARSTELLUNG UND REKONSTRUKTION VON DIGITALISIERTEN ANALOGSIGNALEN ....
23 SIGNALERFASSER 25 SIGNALAUSWERTUNG 29 2.1.4 BUSSE 29 DATENBUS 29
EREIGNISBUS 29 SIGNALBUS 29 2.1.5 ANALYSE VERSCHIEDENER
SYNCHRONISATIONSMETHODEN 29 ZUSTANDSBASIERTE SYNCHRONISATION 30
EREIGNISBASIERTE SYNCHRONISATION 31 2.2 ANALYSE DES AUFBAUS EINES
PRUEFPROGRAMMS 35 2.2.1 GENERELLER AUFBAU 36 GLOBALE DATEN 37 PINLISTE 37
SIGNALDATEN 37 STANDARDPRUEFSCHRITTE 37 2.2.2 AUSWERTUNG UND
KLASSIFIZIERUNG ( BINNING ) 39 2.2.3 AUFBAU EINES PRUEFSCHRITTS 39 2.3
OBJEKTORIENTIERTE MODELLIERUNG 40 2.3.1 DEFINITION EINER KLASSE 40
DATENWOERTERBUCH 40 ASSOZIATIONSLISTE 41 ATTRIBUTE (DATENMODELL) 43 VI
INHALTSVERZEICHNIS OPERATIONEN (FUNKTIONALMODELL) 44 ABSTRAKTION UND
VERERBUNG 45 2.3.2 IMPLEMENTIERUNG 46 2.3.3 ZUSAMMENFASSUNG 48 3 STAND
DER TECHNIK 49 3.1 VORGEHENS WEISE UND DEFIZITE BEI DER
PRUEFPROGRAMMENTWICKLUNG 49 3.1.1 TESTPLANUNG/TESTSPEZIFIKATION 50 3.1.2
TESTSTRATEGIE 50 3.1.3 PRUEFPROGRAMMSPEZIFIKATION 53 3.1.4
IMPLEMENTIERUNG 53 3.1.5 DEBUGGING/FEHLERSUCHE 54 3.2 ZUSAMMENFASSUNG
DER DEFIZITE 55 3.3 STAND DER WISSENSCHAFT 55 3.3.1 WISSENSCHAFTLICHE
BEITRAEGE 55 3.3.2 BEITRAEGE AUS DER INDUSTRIE ODER MIT
INDUSTRIEBETEILIGUNG 57 3.3.3 BEWERTUNG 61 3.4 VERFUEGBARE WERKZEUGE UND
DATENFORMATE ., 61 3.4.1 STANDARDISIERTE DATENHALTUNG UND -VERARBEITUNG
65 3.4.2- WERKZEUGE 66 3.5 ZUSAMMENFASSUNG UND BEWERTUNG 66 4 METHODIK
ZUR VERBESSERUNG DES PRUEFPROGRAMMENTWURFS 69 4.1 TESTPLANUNG UND
TESTSPEZIFIKATION 69 4.2 BILDUNG VON TESTBLOECKEN 72 4.3
TESTVERIFIKATION/TESTSIMULATION 74 4.4 DEFINITION DES
PRUEFPROGRAMMABLAUFS 79 4.5 ANALYSE, OPTIMIERUNG 80 4.6 PORTIERUNG AUF
ZIELSYSTEME 81 4.7 VERIFIKATION DES PRUEFPROGRAMMS, VIRTUELLES TESTEN 82
4.8 ZUSAMMENFASSUNG 83 5 ANFORDERUNGEN AN BESCHREIBUNGSSPRACHE UND
DATENBASIS 84 5.1 ALLGEMEINE ZIELVORGABEN 84 5.2 ANFORDERUNGEN AN DIE
BESCHREIBUNGSSPRACHE 85 5.2.1 DARSTELLUNG DER TESTDATEN 85
STIMULI-SIGNALE UND ERWARTETE BAUSTEINANTWORTEN 85 SIGNALKOPPLUNG 86
PINS . 87 INSTRUMENTE UND FUNKTIONEN 87 VERBINDUNGEN 87 TESTPROZEDUR 87
TESTSEQUENZ 88 MESSERGEBNIS 88 5.2.2 DARSTELLUNG TESTERSPEZIFISCHER DATEN
88 5.2.3 DARSTELLUNG SIMULATORSPEZIFISCHER DATEN 88 5.2.4
ERWEITERBARKEIT 89 5.3 ANFORDERUNGEN AN DIE DATENBASIS 89 5.3.1
OBJEKTORIENTIERTER AUFBAU 90 5.3.2 DATENEINGABE, -AUSGAEBE UND
-BEARBEITUNG 90 DATENEINGABE 90 PLAUSIBILITAETSPRUEFUNG 91
DATENSPEICHERUNG 91 INHALTSVERZEICHNIS VII DATENVERARBEITUNG 91
DATENAUSGABE 92 5.3.3 SCHNITTSTELLEN 92 GETRENNTE MODULE. GEMEINSAME
DATEI-SCHNITTSTELLE 92 KOMBINIERTE MODULE UEBER TEXTSCHNITTSTELLE 92
KOMBINIERTE MODULE UEBER PROGRAMMIER-SCHNITTSTELLE (API) 93 5.3.4
IMPORT-/EXPORTFILTER 93 5.3.5 KONVERTER 94 AUSLESEN VON DATEN 94
BELEGUNG VON RESSOURCEN 95 UEBERPRUEFUNG DER ABBILDBARKEIT 96 ERZEUGUNG
VON TABELLEN 97 ERZEUGUNG VON PROGRAMMCODE 97 KONFIGURATION 97 5.3.6
ZUSAMMENFASSUNG 98 5.4 ANFORDERUNGEN AN SIMULATOREN 98 6 AUFBAU DER
BESCHREIBUNGSSPRACHE TSDL 99 6.1 ALLGEMEINES 99 6.2 OBJEKTMODELL EINER
TESTBESCHREIBUNG 100 6.3 BEFEHLSSATZ 103 6.3.1 KURZBESCHREIBUNG DES
BEFEHLSSATZES 103 6.3.2 BACKUS-NAUR-FORM (BNF) 104 6.3.3
DATENSTRUKTURIERUNG 105 BLOECKE 105 ORDNER 106 TSDL-ROOT 107 ENTITAETEN
107 6.3.4 PARAMETER UND VARIABLEN 109 PARAMETER 110 VARIABLEN 110 6.3.5
DATENBASISBEFEHLE 112 SET_FOLDER 112 SET 112 GET 113 DELETE .113 DESTROY
114 READ 114 WRITE 114 6.3.6 TESTBLOCKBEFEHLE 114 6.4 STRUKTURIERUNG DER
TESTDATEN 116 6.5 FORMALER AUFBAU EINES PRUEFPROGRAMMS MIT TSDL 116 6.6
FORMALE DARSTELLUNG VON SIGNALEN MIT TSDL 118 6.6.1 ALLGEMEINES 119
SIGNALFORM 119 SIGNALDOMAENE 120 SIGNALDATEN .120 EIGENSCHAFTEN VON
TESTSIGNALEN 121 DARSTELLUNG VON SIGNALEN MIT VIRTUELLEN INSTRUMENTEN
121 6.6.2 ZEITREFERENZ UND SYNCHRONISATION 124 6.6.3 STEUERUNG DES
SIGNALABLAUFS 125 VIII INHALTSVERZEICHNIS STEUERUNG DURCH EXTERNE
EREIGNISSE 125 STEUERUNG DURCH EXTERNE SIGNALQUELLEN 125 STEUERUNG DURCH
EXTERNE DATENQUELLEN (Z. B. TESTMUSTER) 125 STEUERSEQUENZ - 126 6.7
FORMALE DARSTELLUNG VON SIGNALMESSUNGEN IN TSDL 126 6.8 TSDL-BEISPIELE
128 6.9 TSDL-ENTITAETEN ZUR DARSTELLUNG VON TESTERRESSOURCEN 130 6.9.1
WAHL DES ABSTRAKTIONSGRADS 132 PRUEFLINGSORIENTIERTE VIRTUELLE RESSOURCEN
(HOHE ABSTRAKTION) 133 TESTERORIENTIERTE VIRTUELLE RESSOURCEN (MITTLERE
ABSTRAKTION) 133 TESTERSPEZIFISCHE VIRTUELLE RESSOURCEN (NIEDRIGE
ABSTRAKTION) 134 6.9.2 VIRTUELLE DATENRESSOURCEN 135 6.9.3 PINLISTEN
(OBJEKTKLASSE PINLIST ) 135 6.9.4 SIGNALFORMEN (OBJEKTKLASSE
SIGNAL_INFO ) 137 LOGISCHE SIGNALFORMATE 137 ANALOGE SIGNALFORMEN 140
6.9.5 PINEIGENSCHAFTEN (OBJEKTKLASSE PIN_INFO ) 148 ELEKTRISCHE
EIGENSCHAFTEN . . 148 TUNING 150 6.9.6 STEUERDATEN (OBJEKTKLASSE
PATTERN ) 151 6.9.7 VIRTUELLE INSTRUMENTE 153 6.9.8 AWG2 154 6.9.9 DWG2
:.: 157 6.9.10 FAWG :.:.;..... 158 6.9.11 VTB_AWG .:.:.: 159 6.9.12 DG2
...;.:..: : 162 6.9.13 DCAP2/ACAP2 164 6.9.14 MASTER_CLOCK 165 6.9.15
DC_MEASURE 166 6.10 STEUERSEQUENZEN FUER INSTRUMENTE 167 6.11
VERBINDUNGEN 168 6.12 DARSTELLUNG VON TESTERSPEZIFISCHEN DATEN 170 6.13
DATENVERARBEITUNG, EIN/AUSGABE 171 LESEN VON DATEN , 172 AENDERN VON
DATEN 172 ERZEUGEN VON DATEN 172 SPEICHERN VON DATEN 172 6.14 TESTBLOECKE
UND TESTPROZEDUREN 172 6.14.1 SYSTEMBEFEHLE 173 6.14.2
INSTRUMENTENBEFEHLE 174 6.14.3 KONVERSIONSBEFEHLE 175 6.15
ANWENDUNGSBEISPIEL: DARSTELLUNG EINES ANALOGSIGNALS 175 7 KONZEPTION UND
IMPLEMENTIERUNG DER DATENBASIS 179 7.1 ALLGEMEINES 179 7.2 GRUNDLEGENDER
AUFBAU UND MECHANISMEN 180 7.2.1 LISTEN 180 7.2.2 DAS TSDL-OBJEKT 180
7.2.3 AUFBAU EINER ENTITAET 181 7.2.4 FINDEN VON OBJEKTEN 182 7.2.5 LESEN
UND SCHREIBEN VON DATEN 182 INHALTSVERZEICHNIS IX 7.2.6 TSDL-VARIABLEN
184 AUFBAU 185 BERECHNUNGSALGORITHMUS UND REFERENZEN 185 SUCHPFAD FUER
REFERENZEN 186 WEITERE EIGENSCHAFTEN 187 7.2.7 TSDL-MODULE .. : 187
7.2.8 VERBINDUNGEN MIT PORTS UND KANAELEN 188 7.3 SPEZIELLE
ENTITY-KLASSEN 189 7.3.1 PATTERN 189 7.3.2 SIGNAL_INFO_WAVEDEF 190 | 7.4
PROGRAMMIERSCHNITTSTELLEN 193 I 7.4.1 TEXTBASIERTE
EIN/AUSGABE-SCHNITTSTELLE 194 | 7.4.2 DATENSTROMBASIERTE,
AUSGABE-SCHNITTSTELLE 194 [ 7.4.3 C++-SCHNITTSTELLE 195 | 7.4.4
APPLIKATIONSSCHNITTSTELLE (API) 196 7.5 BENUTZERSCHNITTSTELLEN 197 7.5.1
TEXTUELLE EINGABE (KONSOLE) 197 7.5.2 GRAFISCHE EINGABE : 197
TSDL-BROWSER : 197 WAVE-VIEWER 198 TOPSA-GUI 199 7.6 ERWEITERUNGEN 200
7.6.1 NEUE ENTITAETS-KLASSEN 200 7.6.2 NEUE DATENBASISBEFEHLE 201 7.6.3
NEUE BIBLIOTHEKEN 201 7.7 IMPORT-EXPORT-FILTER 201 7.8 DATENUBERPRUEFUNG
: 202 7.8.1 OBJEKTDATENUEBERPRUEFUNG 202 7.8.2 VERBINDUNGSUEBERPRUEFUNG 204
7.8.3 ABLAUFUBERPRUEFUNG 205 7.8.4 TESTER-REGEL-UEBERPRUEFUNG (TRC =
TESTER RULE CHECK ) 205 7.8.5 IMPLEMENTIERUNG DER
UEBERPRUEFUNGSFUNKTIONEN 206 7.9 TESTSYSTEMKONVERTER 208 7.9.1 AUFGABEN
DES KONVERTERS 209 7.9.2 AUFBAU UND FUNKTIONSWEISE EINES KONVERTERS 210
KONVERTERSCHNITTSTELLE 210 KONFIGURATIONSDATENBASIS 211 KONVERTERMODUL
211 TREIBERSCHNITTSTELLE 211 TREIBER . /: 211 7.9.3 VERARBEITUNG DER
TESTPROZEDURKOMMANDOS 212 DIREKTE BEFEHLSBEARBEITUNG 213 TREIBERBASIERTE
BEFEHLSBEARBEITUNG 213 7.9.4 VERFAHREN ZUR TREIBERAUSWAHL 214
VERANTWORTLICHKEIT EINES TREIBERS 214 TR-BASIERTE AUSWAHL 215
BEWERTUNGSBASIERTE AUSWAHL 215 RESSOURCENBASIERTE AUSWAHL 216
BENUTZERDEFINIERTE AUSWAHL 216 7.9.5 AUFBAU UND FUNKTIONSWEISE EINES
TREIBERS 216 INHALTSVERZEICHNIS TREIBERSCHNITTSTELLE 217
ZUSTANDSUEBERWACHUNG 217 AUSWAHLMECHANISMEN 217 7.9.6 KONFIGURATION VON
KONVERTER UND TREIBERN 218 BENUTZERKONFIGURATION 218 VERWENDUNG ZUR
RESSOURCENVERWALTUNG 219 7.9.7 IMPLEMENTIERUNG VON KONVERTERN UND
TREIBERN 219 7.9.8 TREIBERBEISPIELE 220 GENERISCHER AWG-TREIBER 220
AWG-TREIBERFUER TESTER A580 220 DG-TREIBER FUER TESTER A580 220
MASTERCLOCK-TREIBER FUER TESTER A580 220 7.10 SIMULATORKONVERTER 220
7.10.1 VERWENDUNG VON FERTIGEN MODELLEN .-, 221 7.10.2 VERWENDUNG VON
MODELLGENERATOREN 222 7.10.3 ANPASSUNG DER MODELLSCHNITTSTELLEN 223
7.10.4 BEISPIELE 223 7.11 TSDL-APPLIKATIONEN 227 7.11.1
TESTMUSTERKONVERTER FUER SCHLUMBERGER S50 UND CREDENCE VISTA 227 7.11.2
GRAFISCHES WERKZEUG ZUR DEFINITION VON ANALOGEN SIGNALFORMEN 227 7.11.3
GRAFISCHES WERKZEUG ZUR DARSTELLUNG DER DATENHIERARCHIE 227 7.11.4
EXPERIMENTALVERSION 1 MIT TESTERKONVERTER FUER TERADYNE A500 227 7.11.5
EXPERIMENTALVERSION 2 MIT VHDL-SIMULATORKONVERTER 228 7.11.6
PRODUKTVERSION MIT TESTERKONVERTER FUER TERADYNE A580 228 7.11.7 KOPPLUNG
DER PRODUKTVERSION MIT EINEM INDUSTRIELLEN WERKZEUG 229
TEMPLATE-PROZESSOR 229 KOPPLUNG MIT TSDL-LIB 230 ERGEBNIS 231 8
ZUSAMMENFASSUNG UND AUSBLICK 232 A DEFINITIONEN 235 B LITERATUR .: 240
|
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| discipline | Elektrotechnik Elektrotechnik / Elektronik / Nachrichtentechnik |
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