Anwendung der orientierungsabbildenden Mikroskopie auf die Mikrostrukturentwicklung in dünnen Schichten:
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Bibliographic Details
Main Author: Greiser, Jens (Author)
Format: Book
Language:German
Published: Stuttgart Max-Planck-Inst. für Metallforschung 1999
Series:Max-Planck-Institut für Metallforschung <Stuttgart>: Bericht 83
Subjects:
Online Access:Inhaltsverzeichnis
Item Description:Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 1999
Physical Description:VI, 143 S. Ill., graph. Darst.

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