Anwendung der orientierungsabbildenden Mikroskopie auf die Mikrostrukturentwicklung in dünnen Schichten:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Greiser, Jens (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Stuttgart Max-Planck-Inst. für Metallforschung 1999
Schriftenreihe:Max-Planck-Institut für Metallforschung <Stuttgart>: Bericht 83
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 1999
Beschreibung:VI, 143 S. Ill., graph. Darst.

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